可(ke)程式冷熱沖擊試驗箱廣(guang)泛用于(yu)電(dian)子(zi)電(dian)器零元(yuan)件(jian)(jian)、自動化(hua)零部件(jian)(jian)、通訊元(yuan)件(jian)(jian) 汽車 配(pei)件(jian)(jian)、金屬(shu)、化(hua)學(xue)材料(liao)、塑(su)膠等行業，國(guo)防(fang)工(gong)業、航太(tai)、兵(bing)工(gong)業、BGA、PCB基(ji)扳(ban) 電(dian)子(zi)晶片IC、半導體陶磁(ci)及高分子(zi)材料(liao)之物理(li)牲變(bian)化(hua),測試其材料(liao)對高、低溫的反復(fu)抵拉 力及產(chan)(chan)品(pin)于(yu)熱脹(zhang)冷縮產(chan)(chan)出的化(hua)學(xue)變(bian)化(hua)或物理(li)傷害，可(ke)確認產(chan)(chan)品(pin)的品(pin)質(zhi),從精密的IC到重機械(xie) 的元(yuan)件(jian)(jian)，可(ke)作(zuo)為其產(chan)(chan)品(pin)改進的依據或參考。
